+7 (812) 322–58–99
info@exiton-analytic.ru
Заказать звонок
О компании
О компании
Новости
Оборудование
Рентгенофлуоресцентные анализаторы
Расходные материалы для РФА
Пробоподготовка для РФА
Оптико-эмиссионные спектрометры
Пробоподготовка для ОЭС
Флюс для сплавления
MBE системы
РФЭС системы
Рентгеновские дифрактометры
Плазменная обработка поверхности
Теория
Сервис
Загрузки
Контакты
Новости
Аналитика экспо 2024
22.04.2024
Пуск ОЭС спектрометра
15.04.2024
Изменение места проведения Аналитики Экспо
26.03.2024
22-я международная выставка Аналитика Экспо 2024
05.03.2024
XXVIII симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
26.02.2024
Международная выставка Testing & Control 2023
11.08.2023
XXVII симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
05.02.2023
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)
17.12.2022
Рентгеновские дифрактометры Dandong Haoyuan Instruments
16.12.2022
Системы молекулярно-лучевой эпитаксии
15.12.2022
Оборудование Control System Abzar Novin
14.12.2022
Оставить заявку на обратный звонок:
Задать вопрос
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с правилами пользования сайта и
правилами обработки персональных данных
Заказать звонок
Отправить
Отправляя форму, Вы подтверждаете свое согласие на
обработку персональных данных