+7 (812) 322–58–99 доб. 302
info@exiton-analytic.ru
Заказать звонок
О компании
О компании
Новости
Оборудование
Рентгенофлуоресцентные анализаторы
Расходные материалы для РФА
Пробоподготовка для РФА
Оптико-эмиссионные спектрометры
Пробоподготовка для ОЭС
Флюс для сплавления
MBE системы
РФЭС системы
Рентгеновские дифрактометры
Плазменная обработка поверхности
Теория
Сервис
Загрузки
Контакты
Главная
Новости
Новости
Международная выставка Testing & Control 2024
04.09.2024
Пуск рентгеновского дифрактометра
09.08.2024
Аналитика экспо 2024
22.04.2024
Пуск ОЭС спектрометра
15.04.2024
Изменение места проведения Аналитики Экспо
26.03.2024
22-я международная выставка Аналитика Экспо 2024
05.03.2024
XXVIII симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
26.02.2024
Международная выставка Testing & Control 2023
11.08.2023
XXVII симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
05.02.2023
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)
17.12.2022
Рентгеновские дифрактометры Dandong Haoyuan Instruments
16.12.2022
Системы молекулярно-лучевой эпитаксии
15.12.2022
Оборудование Control System Abzar Novin
14.12.2022
Оставить заявку на обратный звонок:
Задать вопрос
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с правилами пользования сайта и
правилами обработки персональных данных
Заказать звонок
Отправить
Отправляя форму, Вы подтверждаете свое согласие на
обработку персональных данных