XAFS-спектрометр

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Буклет XAFS2300

Отправить запрос

XAFS-спектроскопия (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy)

Описание метода

XAFS-спектроскопия — это метод исследования тонкой структуры (X-ray absorption fine structure, XAFS) в спектрах:

• Рентгеновского поглощения
• Возбуждаемых вторичных продуктов (флуоресценция, электронная эмиссия)
• Вблизи краёв поглощения атомов вещества

Возможности метода:

• Анализ электронной структуры вещества
• Исследование локального атомного окружения
• Применимость ко всем агрегатным состояниям (твёрдое, жидкое, газообразное)
• Изучение аморфных, стеклообразных и нанокристаллических материалов

Области применения

Основные научные направления:

• Физика (фазовые переходы, сверхпроводимость)
• Химия (катализаторы, сплавы)
• Биология (ферменты, белки)
• Материаловедение
• Геохимия (экологические исследования)

Конкретные задачи:

• Исследование магнетизма в новых материалах
• Анализ структуры катализаторов
• Изучение активных центров белков
• Мониторинг тяжёлых металлов в экологии

Спектрометр XAFS2300 (Dandong Haoyuan Instruments)

Ключевые особенности:
✔ Лабораторное решение без синхротронного излучения
✔ Трехкомпонентная система:

1. Высокопроизводительный рентгеновский источник
2. Изогнутый кристаллический монохроматор
3. SDD-детектор высокого разрешения

Аналитические возможности:

• Точное измерение XAFS в лабораторных условиях
• Определение:
  • Координационного числа
  • Длины связей
  • Валентного состояния
  • Координации элементов

Дополнительная функция:

• XES-тестирование (рентгеновская флуоресцентная спектроскопия с высоким разрешением)
  • Точное определение спинового состояния элементов

Преимущества лабораторного решения:

• Доступность исследований без синхротрона
• Высокая точность измерений
• Широкий спектр решаемых задач
• Компактное исполнение для научных лабораторий