Заказать звонок

XAFS-спектрометр

XAFS- спектроскопия (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy)

XAFS-спектроскопия как метод исследования состоит в изучении тонкой структуры (X-ray absorption fine structure, XAFS), появляющейся в спектрах рентгеновского поглощения (или спектрах возбуждаемых рентгеновскими квантами «вторичных продуктов» — рентгеновской и оптической флуоресценции, внешнем выходе электронов, десорбции ионов) вблизи краев поглощения составляющих вещество атомов. Расшифровка этих спектров позволяет получить важную информацию об электронной структуре вещества и структуре локального окружения исследуемых атомов.

В настоящее время XAFS-спектроскопия широко используется в физике, химии, материаловедении, биологии, геохимии. Этим методом изучаются структурные и электронные (сверхпроводимость) фазовые переходы в кристаллах; природа магнетизма в традиционных магнетиках и новых объектах — магнитных сверхрешетках.

Метод играет большую роль в исследованиях строения новых перспективных катализаторов и технологически важных сплавов, при изучении структуры активных центров в ферментах и белках, изучении механизмов связывания радиоактивных и тяжелых металлов в задачах по охране окружающей среды.

Следует особо подчеркнуть, что этот метод применим к исследованию веществ во всех агрегатных состояниях — твердом, жидком и газообразном; он дает уникальную информацию о структуре аморфных, стеклообразных и ставших в последнее время актуальными нанокристаллических материалов.

Спектрометр  XAFS2300 производства компании Dandong Haoyuan Instruments (Китай)

XAFS2300  — лабораторный прибор, который не использует синхротронное излучение.

XAFS2300 объединяет в себе три основных компонента: высокопроизводительный источник рентгеновского излучения непрерывного спектра, изогнутый кристаллический монохроматор с высокой эффективностью отражения и SDDдетектор высокого разрешения. С его помощью можно точно измерить XAFS в лабораторных условиях и выполнить анализ координационного числа, длины связи, валентного состояния и координации элементов.

Кроме того, XAFS2300 также может выполнять XESтестирование, которое, по сути, представляет собой рентгеновский спектр флуоресценции со сверхвысоким энергетическим разрешением, что позволяет точно определять спиновое состояние элементов.

Основные характеристики

Мощность: 3 кВт

Cветовой поток: ≈2×10^6 фотонов в секунду (7-9 кэВ), оснащен функциями измерения в режиме пропускания и флуоресценции, рентгеновской абсорбционной спектроскопии (XAFS) и рентгеновской эмиссионной спектроскопии (XES).

Диапазон энергий: 4,5-25 кэВ

Энергетическое разрешение: 0,5-3 эВ

Повторяемость: < 50 МэВ, смещение шкалы энергий, монохроматор не требует повторной калибровки

Используется круг Роуланда с высоким разрешением и сферически изогнутый рентгеновский монохроматор; SDD-детектор с высоким разрешением. Возможность измерения 1% фактического образца.

Буклет XAFS2300

Оставить заявку на обратный звонок: