РФЭС (XPS) спектрометр
Важной задачей исследования свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности.
Экспериментальная станция XPS производства компании SLI (Китай) предназначена для проведения элементного и химического анализа поверхности образцов.
Спектрометр состоит из:
- аналитической камеры — имеет магнитное экранирование из нержавеющей стали и μ-металла
- СВВ системы откачки для поддержания камеры в условиях сверхвысокого вакуума
- полусферического анализатора энергии R150X (150 мм)
- микрофокусного монохроматического рентгеновского источника μXR275
- электронной пушки FG40
- ионной пушки AG40
- УФ-источника VUV430
- 5-осевого автоматизированного предметного столика MP5A -X
- камеры загрузки — оборудована трансфером и вакуумметрами
- держателя образца: круглый держатель образца или лоток для образцов диаметром до 60 мм
Каждый компонент системы подключен к компьютеру и управляется интегрированным программным обеспечением.
Система поставляются «под ключ», с гарантией производителя.
Мы оказываем полный цикл поддержки, включая поставку, пуск, гарантийное и пост-гарантийное обслуживание силами собственных инженеров (граждане РФ).
