РФЭС (XPS) спектрометр
на оборудование
Важной задачей исследования свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности.
Экспериментальная станция XPS предназначена для проведения элементного и химического анализа поверхности образцов.
• Спектрометр состоит из аналитической камеры и загрузочной камеры. Основная камера имеет магнитное экранирование из нержавеющей стали и μ-металла и оснащена полусферическим анализатором энергии, микрофокусным рентгеновским источником, электронной пушкой, ионной пушкой, УФ-источником и 5-осевым полностью автоматизированным предметным столиком.
• Каждый компонент подключен к компьютеру и управляется интегрированным программным обеспечением.
• Система оснащена СВВ системой откачки для поддержания камеры в условиях сверхвысокого вакуума.
• Камера загрузки оборудована трансфером и вакуумметрами.
• Держатель образца: круглый держатель образца или лоток для образцов, может поставляться лоток для образцов диаметром до 60 мм.
Система поставляются «под ключ», с гарантией производителя.
Мы оказываем полный цикл поддержки, включая поставку, пуск, гарантийное и пост-гарантийное обслуживание силами собственных инженеров (граждане РФ).