Заказать звонок

РФЭС (XPS) спектрометр

Отправить запрос
на оборудование

Важной задачей исследования свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль  при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности.

Экспериментальная станция XPS предназначена для проведения элементного и химического анализа поверхности образцов.

• Спектрометр состоит из аналитической камеры и загрузочной камеры. Основная камера имеет магнитное экранирование из нержавеющей стали и μ-металла и оснащена полусферическим анализатором энергии, микрофокусным рентгеновским источником, электронной пушкой, ионной пушкой, УФ-источником и 5-осевым полностью автоматизированным предметным столиком.
• Каждый компонент подключен к компьютеру и управляется интегрированным программным обеспечением.
• Система оснащена СВВ системой откачки для поддержания камеры в условиях сверхвысокого вакуума.
• Камера загрузки оборудована трансфером и вакуумметрами.
• Держатель образца: круглый держатель образца или лоток для образцов, может поставляться лоток для образцов диаметром до 60 мм.

Система поставляются «под ключ», с гарантией производителя.

Мы оказываем полный цикл поддержки, включая поставку, пуск, гарантийное и пост-гарантийное обслуживание силами собственных инженеров (граждане РФ).

Оставить заявку на обратный звонок: