Заказать звонок

РФЭС (XPS) спектрометр

Отправить запрос

Важной задачей исследования свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль  при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности.

Экспериментальная станция XPS предназначена для проведения элементного и химического анализа поверхности образцов.

  • Спектрометр состоит из аналитической камеры и загрузочной камеры. Основная камера имеет магнитное экранирование из нержавеющей стали и μ-металла и оснащена полусферическим анализатором энергии R150X, микрофокусным монохроматическим рентгеновским источником μXR275, электронной пушкой FG40, ионной пушкой AG40, УФ-источником VUV430 и 5-осевым полностью автоматизированным предметным столиком MP5A -X.Каждый компонент подключен к компьютеру и управляется интегрированным программным обеспечением.
  • Система оснащена СВВ системой откачки для поддержания камеры в условиях сверхвысокого вакуума.
  • Камера загрузки оборудована трансфером и вакуумметрами.Держатель образца: круглый держатель образца или лоток для образцов, может поставляться лоток для образцов диаметром до 60 мм.

Система поставляются «под ключ», с гарантией производителя.

Мы оказываем полный цикл поддержки, включая поставку, пуск, гарантийное и пост-гарантийное обслуживание силами собственных инженеров (граждане РФ).

Оставить заявку на обратный звонок: