РФЭС (XPS) спектрометр
на оборудование
Важной задачей исследования свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности.
Экспериментальная станция XPS предназначена для проведения элементного и химического анализа поверхности образцов.
Передовое интуитивно понятное программное обеспечение обеспечивает результаты мирового класса, позволяя получать высококачественные спектры за считанные секунды. Уникальная система с двумя детекторами обеспечивает XPS изображение с превосходным пространственным разрешением. Инструмент оптимизирован для дополнительных методов анализа, включая REELS и ISS. Управление системой, сбор и обработка данных легко осуществляются с помощью программного обеспечения.
Система поставляются «под ключ», с гарантией производителя.
Мы оказываем полный цикл поддержки, включая поставку, пуск, гарантийное и пост-гарантийное обслуживание силами собственных инженеров (граждане РФ).
За дополнительной информацией пожалуйста обращайтесь по телефону.