Фотоэмиссионный электронный микроскоп. FOCUS PEEM

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЗАГРУЗКИ

Отправить запрос
на оборудование

FOCUS PEEM использует метод фотоэмиссионной электронной микроскопии для изображения электронов, испускаемых с любой плоской и проводящей поверхности образца. Эмиссия электронов с поверхности образца может быть вызвана различными способами — облучением фотонами, термически, электронной / ионной бомбардировкой или полевой эмиссией.

В отличие от SEM, PEEM не использует сканирующий зондовый луч, а поверхность образца равномерно освещается, например, УФ-светом или рентгеновскими лучами. Таким образом, можно избежать повреждения хрупких поверхностей . Увеличенное изображение поверхности можно получать непосредственно в режиме реального времени или даже на видеочастоте, если интенсивность фотонов достаточна.

FOCUS PEEM представляет из себя модульную систему которую легко модифицировать. За счет высокостабильного интегрированного предметного столика для образцов (IS) и различным доступным энергетическим фильтрам микроскоп можно применять для решения широкого спектра задач.
Сегодня FOCUS PEEM позволяет легко переключаться между отображением в режиме реального времени и k-пространством, а за счет возможности фильтрации энергии становится одним из лучших инструментов для спектроскопической микроскопией.