РФЭС спектрометры

PULSE XPS

Универсальная сверхвысоковакуумная система, разработанная под самые высокие требования современного анализа тонких пленок. Система рассчитана на анализ поверхности методами XPS, UPS, ISS (LEIS), AES и Depth Profiling. Благодаря гибкой модульной конструкции функционал системы может быть легко расширен.

подробнее...
Анализатор ASPECT

Система ЭСХА Sigma состоит из анализатора энергии ASPECT с многоканальным детектором (радиус 160 мм, рабочее расстояние 35 мм), высоковольтного источника питания (энергетический диапазон 3,5 кэВ), монохроматора ASPECT и программного обеспечения NEO.

подробнее...